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實(shí)驗室小型等離子處理機(jī)

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原位電鏡等離子清洗機(jī)

GV10x去除碳和碳?xì)湮廴镜男适莻鹘y(tǒng)方法的10-20倍,排除了SEM圖像的干擾和成像中的黑色掃描框,保持SEM成像的高分辨率和穩(wěn)定性;排除聚焦離子束(FIB)和透射電子顯微鏡(TEM)中的碳干擾。

全新的典范: 原位等離子清洗系統(tǒng)GV10X
 

    GV10x 是由美國ibss Group公司與等離子源發(fā)明者共同合作開發(fā)并生產(chǎn)的新一代原位等離子技術(shù)清洗系統(tǒng)。GV10x可以在分子泵運(yùn)行的真空狀態(tài)下工作,GV10x去除碳和碳?xì)湮廴镜男适莻鹘y(tǒng)方法的10-20倍,且具有價格優(yōu)勢。排除了SEM圖像的干擾和成像中的黑色掃描框,保持SEM成像的高分辨率和穩(wěn)定性;排除聚焦離子束(FIB)和透射電子顯微鏡(TEM)中的碳干擾。

亮點(diǎn):
功率:5 -99 W 連續(xù)可調(diào)等離子功率


工作環(huán)境:- 2 Torr to <5 mTorr (等離子源處真空度)
在較高的真空度下(大于50 毫托),清洗氣體的平均自由程很短,允許在靠近等離子源的區(qū)域去除污染。
在較低的真空度下(小于50 毫托),清洗氣體的平均自由程比較長,能均勻高效的清除碳污染。
整個清洗反應(yīng)過程發(fā)生在分子泵運(yùn)行的狀態(tài)下,無需關(guān)閉抽真空系統(tǒng)。


柔和:使用中性氧或氫的自由基通過非動力學(xué)過程灰化氣相碳?xì)浠衔锖捅砻嫣肌?/span>



  
    Ibss group公司引進(jìn)Gentle Asher 腔體拓展了GV10x的應(yīng)用,用以清潔放入電子顯微鏡腔體前的樣品。連接了GV10x的Gentle Asher™腔體 GA/GV 可以極大地防止黑色掃描方框的生成。在將電鏡腔清潔到可接受的碳?xì)湮廴舅胶?,可以使用順流工藝,通過簡單地將GV10x源移動到Gentle Asher腔中,達(dá)到樣品清潔和儲存的目的??蛻舻膱蟾媛暦Q這種有效的結(jié)合以更少的損傷巧妙地去除TEM樣品臺和任何類型樣品的污染,同時保持CDSEM、 SEM、FIB 和TEM中碳?xì)湮廴舅降囊卓刂菩?。預(yù)清潔樣品和樣品臺避免了污染電鏡腔體,這樣就延長了電鏡清洗的周期。


         

功率:5 -99 W 連續(xù)可調(diào)等離子功率

工作環(huán)境: - 2 Torr to <5 mTorr (measured at the Source)
o 在較高的真空度下(大于50 毫托),清洗氣體的平均自由程很短,允許在靠近等離子源的區(qū)域去除污染。
o 在較低的真空度下(小于50 毫托),清洗氣體的平均自由程比較長,能均勻高效的清除碳污染。
o 整個清洗反應(yīng)過程發(fā)生在分子泵運(yùn)行的狀態(tài)下,無需關(guān)閉抽真空系統(tǒng)。

柔和:使用中性氧或氫的自由基通過非動力學(xué)過程灰化氣相碳?xì)浠衔锖捅砻嫣肌?br />
氣源:使用中性氧或氫的自由基通過非動力學(xué)過程灰化氣相碳?xì)浠衔锖捅砻嫣肌?br />
控制系統(tǒng):手動,PC控制,皮拉尼真空計
          時間:0~999分鐘,精度:秒
          實(shí)時顯示設(shè)置值和實(shí)際參數(shù)

軟件:基于WINDOWS XP系統(tǒng)可與電鏡操作軟件對接,編入電鏡操作軟件。



 




 
    GV10x 順流等離子清洗系統(tǒng)去除碳?xì)湮廴镜哪芰κ且粋€巨大突破,超越了使用冷卻捕捉、氮?dú)獯祲m等緩和污染的傳統(tǒng)方法和其它等離子清洗機(jī)。GV10x,以其擴(kuò)展的功率和壓力范圍(5 至 100 瓦 和2 至 <0.005 托) 代表了SEMs和其他真空系統(tǒng)中除碳的經(jīng)典轉(zhuǎn)移。

    原子氧和氫可以將表面碳轉(zhuǎn)換成氣相分子然后被泵出到腔體外,而不僅是被固定和捕獲在表面,從而消除污染。SEM腔中低的碳含量使樣品假象比如聚合物沉積得到最小化。




    

 
    
              Negative [or positive] charging scan squares & charging artifacts cause critical measurement and observational errors removed and prevented - Courtesy of Infineon on LEO 1550

 
    由于各個儀器的清潔周期不同,可以通過在不同的儀器之間更換GV10x 源將GV10x 應(yīng)用在幾個實(shí)驗室工具上。 在GV10x源和儀器真空腔之間放置一個隔離閥,如S-4700 FESEM所示,就可以非常簡易的重新安置GV10x。


 

    隨著納米科學(xué)的進(jìn)步,電子束聚焦的更好、電子束能量降低、前驅(qū)氣體的使用增加,使得高分辨率日益依賴于將碳污染控制在較低水平。通過遠(yuǎn)程或順流等離子工藝消除污染和去污染能夠迅速、簡便和有效地完成這樣的任務(wù)。與普通的“等離子清洗機(jī)“中的動力學(xué)濺射、刻蝕清潔不一樣, 順流等離子工藝是一個柔和的化學(xué)刻蝕。這個工藝已經(jīng)革新了在真空腔體中消除碳分子和碳?xì)浠衔锏姆绞健?/span>

   

GV10x DS Asher以較高的原子氧和氫濃度和更少的時間就可以達(dá)到同樣精妙的去除污染的效果,因此只需很短的時間就可以得到全新清潔的腔體,非常適合大尺寸的腔體和重度污染的表面。客戶聲稱,使用GV10x可以使整個大型腔體的碳?xì)渌降玫礁佑行Ш途鶆虻目刂疲恍枰F(xiàn)存方法的十分之一的時間,同時具有更加好的均勻性。








 
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